Радиоволновые, радиационные методы контроля РЭСИ. Методы электронной микроскопии

  • Добавили26.06.2009
  • Размер8240,07 Kб
  • Скачали167

Обозначения: - антенна преобразователя; - нагрузка. 1 – СВЧ-генератор; 2 – объект контроля; 3 – СВЧ-приемник; 4 – линза для создания (квази) плоского фронта волны; 5 – линза для формирования радио-изображения; 6 – опорное (эталонное) плечо мостовых схем. Примечание: допускается применение комбинаций схем расположения антенн преобра¬зователя по отношению к объекту контроля.

Растровая электронная микроскопия (РЭМ). Сфокусированный пучок элект¬ронов 1 (рис. 2) диаметром 2-10 нм с помощью отклоняющей системы 2 перемещается по поверхности образца, (либо диэлектрической пленки З1, либо полупроводника З-11.

) Синхронно с этим пучком электронный пучок перемеща¬ется по экрану электронно-лучевой трубки. Интенсивность электронного луча моделируется сигналом, поступающим с образца. Строчная и кадровая разверт¬ка пучка электронов позволяют наблюдать на экране ЭЛТ определенную пло¬щадь исследуемого образца.

В качестве модулирующего сигнала можно исполь¬зовать вторичные и отражательные электроны. Рисунок 1 – Классификация радиационных методов Рисунок 2 – Режимы работы растровой электронной микроскопии а) контраст в прошедших электронах; б) контраст во вторичных и отраженных электронах; в) контраст в наведенном токе (З11 - ус¬ловно вынесен за пределы прибора). 1 – сфокусированный луч; 2 – отклоняющая система; 3 – объект исследования - диэлектричес¬кая пленка; 4 - детектор вторичных и отраженных электронов; 5 -усилитель; 6 - генератор развертки; 7 - ЭЛТ; 8 - сетка детектора; 9 -отраженные электроны; 10 - вторичные электроны.

Просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ) основана на поглоще¬нии, дифракции электронов взаимодействия с атомами вещества. При этом про¬шедший через пленку сигнал снимается с сопротивления, включаемого после¬довательно с образцом З1. Для получения изображения на экране используются мощные линзы, располагаемые за образцом.

Стороны образца должны быть плос¬копараллельными, чистыми. Толщина образца должна быть много меньше дли¬ны свободного пробега электронов и должна составлять 10 100 .

Скачать
Курсовая 28.12.1999

Электрон в слое

Микрочастица электрон в слое. Собственно говоря, одномерная задача, которая сейчас будет рассмотрена, во многих учебных руководствах довольно подробно разобрана путм введения некоторых упрощений. Она состоит в следующем Микрочастица электрон движется

Реферат 16.04.2003

Микроскоп

На протяжении длительного времени человек жил в окруженииневидимых существ, использовал продукты их жизнедеятельности например, привыпечке хлеба из кислого теста, приготовлении вина и уксуса , страдал, когдаэти существа являлись причинами болезней или

Реферат 25.01.2002

Радиационно-опасные объекты

Экологическая катастрофа Данное словосочетание страшное даже или особенно для обывательского сознания. И всеже специалисты оказываются или наиболее чувствительными, или наиболее толстокожими, оперирующими цифрами о катастрофах и катаклизмах с таким спокойствием

5ballov.qip.ru рекомендует:

  • Выбор ВУЗа

    С приходом лета начался период, когда выпускники школ выбирают куда пойдут учиться дальше. Конечно, это совсем не легкий выбор, но помочь в выборе может рейтинг вузов на нашем сайте. Также в этом разделе представлена вся нужная для абитуриентов информация.

  • Как сдать ЕГЭ

    Прежде, чем идти в выбранный вуз с документами, нужно сначала получить аттестат, который выдается после сдачи экзаменов. А подготовиться к ним можно в нашем разделе ЕГЭ. Там также представлены варианты за прошлые года.

  • Подготовка к ГИА

    Для девятиклассников не менее важно окончание учебного года. Их также ждет государственная итоговая аттестация. Подготовиться к ней можно на нашем сайте в разделе ГИА. Главное помнить: самоподготовка - это путь к успешной сдаче.

Облако тегов