Моделирование и методы измерения параметров радиокомпонентов электронных схем

  • Добавили18.06.2009
  • Размер748,62 Kб
  • Скачали71

САПР - система автоматизированного проектирования СВЧ - сверхвысокая частота - точка спектра плана ТСП - табличная факторная функция ТФФ ТЭФФ - табличное значение элементарной факторной функции Ф - функциональный компонент ФСМ - факторная статистическая модель ФЭ - факторный эксперимент Ц - цифровой компонент ЦАМ - цифровая аналитическая макромодель ЭБ - элементная база ЭВМ - электронно-вычислительная машина ЭС - электронная схема ЭФФ - элементарная факторная функция ВВЕДЕНИЕ Алгоритмические методы широко используются для измерения и расчёта параметров математических моделей (ММ) радиокомпонентов (РК) в системах автоматизированного проектирования (САПР) электронных схем (ЭС). Это обусловлено тем, что на данный момент накоплено достаточное количество ММ РК, применяемых для проектирования ЭС с использованием современных электронно-вычислительных машин (ЭВМ) и программного обеспечения, например PSpice [1]. Алгоритмические методы применяются также для измерения параметров РК на производстве с целью проведения входного и выходного контроля, стабильности технологического процесса, проведения отбраковки радиокомпонентов по различным параметрам.

К этому следует добавить, что на территории России, стран СНГ и за рубежом налажено производство широкого ассортимента стандартных РК, что определяет значительную потребность в использовании таких методов измерения и снижении стоимости исследований в данной области. Исследования поведения РК, а также попытки их описания с помощью формул, графиков и т. д т.

е. составление ММ РК, при изменении различных условий работы и внешних факторов появлялись с момента изобретения всё новых и новых РК. Данные исследования проводились в основном без использования ЭВМ, что увеличивало срок и стоимость разработок.

Появление алгоритмических методов измерения было обусловлено несколькими факторами: 1. Увеличением количества РК. 2.

Усложнение проектируемых устройств. 3. Необходимостью снижения времени и стоимости разработок.

4. Появлением ЭВМ, удовлетворяющих требованиям разработчиков электронных схем.

Скачать
Диплом Радиоэлектроника 15.06.2009

Исследование и разработка методов и технических средств и измерения для формирования...

1 Анализ технического задания 2 Математические модели радиоэлектронных элементов 2.1 Общие положения 2.2 Структура элементной базы радиоэлектронных средств 2.3 Общие характеристики моделей РК 2.4 Модели ДП 2.4.1 Компонентные модели ДП 2.4.2 Факторные

Диплом Радиоэлектроника 15.06.2009

Исследование и разработка методов и технических средств и измерения для формирования...

1 Анализ технического задания 2 Математические модели радиоэлектронных элементов 2.1 Общие положения 2.2 Структура элементной базы радиоэлектронных средств 2.3 Общие характеристики моделей РК 2.4 Модели ДП 2.4.1 Компонентные модели ДП 2.4.2 Факторные

Шпаргалка Технологии 25.01.2002

Методы измерения вибрации

Методы измерения вибрации.Современныетехнологии требуют непрерывного контроля за многими параметрамитехнологического процесса и контроля состояния оборудования. Одними изважнейших являются параметры механического движения, в частности параметрыпериодических

Реферат Физика 08.09.2009

Определение концентрации атомов в газе методом атомно-абсорбционной спектроскопии

Введение… …… 3 1. Глава 1 Теория атомно-абсорбционных измерений 6 1.1 излучение и поглощения света… 6 1.2 понятие линии поглощения и коэффициента поглощения ……… .8 1.3 контур линии поглощения….10 1.4 связь между коэффициентом поглощения в центре доплеровской

5ballov.qip.ru рекомендует:

  • Выбор ВУЗа

    С приходом лета начался период, когда выпускники школ выбирают куда пойдут учиться дальше. Конечно, это совсем не легкий выбор, но помочь в выборе может рейтинг вузов на нашем сайте. Также в этом разделе представлена вся нужная для абитуриентов информация.

  • Как сдать ЕГЭ

    Прежде, чем идти в выбранный вуз с документами, нужно сначала получить аттестат, который выдается после сдачи экзаменов. А подготовиться к ним можно в нашем разделе ЕГЭ. Там также представлены варианты за прошлые года.

  • Подготовка к ГИА

    Для девятиклассников не менее важно окончание учебного года. Их также ждет государственная итоговая аттестация. Подготовиться к ней можно на нашем сайте в разделе ГИА. Главное помнить: самоподготовка - это путь к успешной сдаче.

Облако тегов